High Temperature X-Ray Triple Crystal Diffractometry and Reflectometry of Layered Systems.

Provider

Czech Science Foundation

Programme

Standard projects

Call for proposals

—

Main participants

Masarykova univerzita

Contest type

—

Contract ID

—

Project name in Czech

Vysokoteplotní trojkrystalová rtg difraktometrie a reflektometrie vrstevnatých systémů

Annotation in Czech

Rtg trojkrystalová difraktometrie a reflektometrie budou použity pro sledování struktury tenkých vrstev a vrstevnatých systémů.Měření bude prováděno za pokojové teploty a za vyšších teplot až do teploty depozice vrstev na polovodičových epitaxních vrstvách a kovových vrstvách připravených magnetronovým naprašováním.Cílem projektu je získat informace o struktuře rozhraní (drsnosti) vrstevnatých systémů a o objemových defektech ve vrstvách (deformační pole, mikrodefekty), jakož i o jejich změnách za vyššíh teplot.Výsledky měření bodou korelovány se spekulární a nespekulární odrazivostí vrstev ve viditelné oblasti a s pozorováním TEM a STM.

R&D category

—

CEP classification - main branch

BM - Solid-state physics and magnetism

CEP - secondary branch

—

CEP - another secondary branch

—

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Realization period - beginning

Jan 1, 1994

Realization period - end

Jan 1, 1996

Project status

U - Finished project

Latest support payment

—

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data delivery code

CEP/1997/GA0/GA07GA/V/9:7

Data delivery date

—

Total approved costs

265 thou. CZK

Public financial support

455 thou. CZK

Other public sources

0 thou. CZK

Non public and foreign sources

0 thou. CZK