All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Comparison of measurements of material parameters at millimeter and sub-THZ frequencies using optical, resonance and VNA methods

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F23%3AN0000041" target="_blank" >RIV/00177016:_____/23:N0000041 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="https://www.unmz.cz/wp-content/uploads/Metrologie-3-23-titul-str-obsah.pdf" target="_blank" >https://www.unmz.cz/wp-content/uploads/Metrologie-3-23-titul-str-obsah.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Porovnání měření materiálových parametrů na milimetrových a sub-THZ kmitočtech pomocí optických, rezonančních a VNA metod

  • Original language description

    Měření materiálových parametrů, zejména komplexní permitivity, je důležité pro vývoj mikrovlnných a THz technologií, např. substrátů a dielektrických komponent pro telekomunikace (pouzdra mobilních terminálů, substráty) a automobilový průmysl (senzory pro autonomní vozidla, radarové systémy). Potřeba přesného měření komplexní permitivity se ukazuje i v oblasti biomedicíny (tělní implantáty), vesmírných aplikacích (radomy antén), materiálovém výzkumu a dalších oblastech. Pro porovnání mezí použitelnosti jednotlivých systémů a metod pro extrakci materiálových parametrů bylo v rámci EURAMET EMPIR projektu TEMMT zorganizováno mezilaboratorní porovnání měření materiálových parametrů v kmitočtovém rozsahu 50 GHz až 3 THz pomoc různých metod.

  • Czech name

    Porovnání měření materiálových parametrů na milimetrových a sub-THZ kmitočtech pomocí optických, rezonančních a VNA metod

  • Czech description

    Měření materiálových parametrů, zejména komplexní permitivity, je důležité pro vývoj mikrovlnných a THz technologií, např. substrátů a dielektrických komponent pro telekomunikace (pouzdra mobilních terminálů, substráty) a automobilový průmysl (senzory pro autonomní vozidla, radarové systémy). Potřeba přesného měření komplexní permitivity se ukazuje i v oblasti biomedicíny (tělní implantáty), vesmírných aplikacích (radomy antén), materiálovém výzkumu a dalších oblastech. Pro porovnání mezí použitelnosti jednotlivých systémů a metod pro extrakci materiálových parametrů bylo v rámci EURAMET EMPIR projektu TEMMT zorganizováno mezilaboratorní porovnání měření materiálových parametrů v kmitočtovém rozsahu 50 GHz až 3 THz pomoc různých metod.

Classification

  • Type

    J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20201 - Electrical and electronic engineering

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/8B19011" target="_blank" >8B19011: Traceability for electrical measurements at milimetre-wave and terahertz frequencies for communications and electronics technologies</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2023

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Metrologie

  • ISSN

    1210-3543

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    32

  • Issue of the periodical within the volume

    3

  • Country of publishing house

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Number of pages

    7

  • Pages from-to

    4-10

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database