Microcrystalline Silicon Characterization by the CPM and SPV Methods
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F99%3A11110020" target="_blank" >RIV/00216208:11320/99:11110020 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Charakterizace mikrokrystalického křemíku metodami CPM a SPV
Original language description
Vývoj amorfní fáze (inkubacní vrstva) v tenkých vrstvách mikrokrystalického kremíku je v závislosti na tlouštce vrstvy studován metodou konstantního fotoproudu (CPM), merením temné vodivosti a pro urcení difuzní délky též metodou povrchového fotovoltaického jevu (SPV) a metodou stacionární mrížky fotonosicu. Výsledky podporují hypotézu anizotropie rustu zrn. Je predložen model, který pomáhá lépe pochopit deje spojené s fotogenerací, transportem a rekombinací nosicu náboje.
Czech name
Charakterizace mikrokrystalického křemíku metodami CPM a SPV
Czech description
—
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
1999
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Ferroelectrics
ISSN
0015-0193
e-ISSN
—
Volume of the periodical
122
Issue of the periodical within the volume
1
Country of publishing house
GB - UNITED KINGDOM
Number of pages
6
Pages from-to
—
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—