Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00014765" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00014765 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Optical properties of NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique

Original language description

In this paper the optical characterization of the NiO thin films prepared by pulsed laser deposition technique onto the quartz substrate were performed using multi-sample modification of the combined optical method based on measuring and interpreting theexperimental data obtained by variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotometry in reflected and transmitted light. A new dispersion model of the optical constants of the NiO films was also used. This dispersion model was based on parameterizing of the joint density of states together with the Gaussian broadening. The defects consiting in boundary roughness and refractive index profile were taken into account in optical characterization of the NiO films too. The spectral dependences of the optical constants together with the parameters characterizing the defects of these films were determined.

Czech name

Optické vlastnosti tekých NiO vrstev připravených pomocí pulzní laserové depoziční metody

Czech description

V tomto článku optická charakterizace vrstev NiO připravených pulsní lasrovou deposicí na podložky z taveného křemene byla provedena pomocí vícevzorkové modifikace kombinované optické metody založené na měření a interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektrofotometrií v odraženém a propuštěném světle. Nový dispersní model optických konstant NiO vrstev byl použit. Tento dispersní model je založen na parametrizaci sdružené hustoty elektronových stavů spolus Gaussovským rozšířením. Defekty spočívající v drsnosti rozhraní a profilu indexu lomu byly rovněž brány v úvahu při optické charakterizaci NiO vrstev. Byly určeny spektrální závislosti optických konstant spolu s parametry charakterizujícími defekty těchto vrstev byly.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Applied Surface Science

ISSN

0169-4332

e-ISSN

—

Volume of the periodical

244

Issue of the periodical within the volume

1-4

Country of publishing house

US - UNITED STATES

Number of pages

5

Pages from-to

426-430

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—