In-situ ellipsometry of surfaces and thin films
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F00%3APU25288" target="_blank" >RIV/00216305:26210/00:PU25288 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů
Original language description
In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů
Czech name
In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů
Czech description
—
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/PG98377" target="_blank" >PG98377: Ion-beam technologies and surface/thin film analysis</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2000
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
329-332
Publisher name
Vutium
Place of publication
Brno
Event location
Fakulta strojního inženýrství, VUT v Brně
Event date
Dec 5, 2000
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—