Semiconductors: local optical and electrical characteristics, ME 544

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30186" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30186 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544
Original language description
Na základě předchozí prací v Laboratoři optické nanometrologie FEKT VUT jsou základními cíli této studie:1.Lokální spektroskopická měření s prostorovým a časovým rozlišení na polovodičových nanostrukturách, 2.Studium interakce sondy s předmětem v případěhybridního SNOM, 3.Diagnostika polovodičových nanostruktur a součástek,4.Studium akcelerovaného stárnutí součástek vedoucí k vyšší spolehlivosti součástek.
Czech name
Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544
Czech description
Na základě předchozí prací v Laboratoři optické nanometrologie FEKT VUT jsou základními cíli této studie:1.Lokální spektroskopická měření s prostorovým a časovým rozlišení na polovodičových nanostrukturách, 2.Studium interakce sondy s předmětem v případěhybridního SNOM, 3.Diagnostika polovodičových nanostruktur a součástek,4.Studium akcelerovaného stárnutí součástek vedoucí k vyšší spolehlivosti součástek.

Type
V<sub>x</sub> - Unclassified - Research report containing classified information
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)