All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Finite Element Modeling of Surface Mount Devices

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU49943" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU49943 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Finite Element Modeling of Surface Mount Devices

  • Original language description

    The aim of this work is to improve reliability of SMD connecting and to increase durability of these structures. Three-dimensional finite element analysis has been applied to determine the time-dependent solder joint fatigue response and under accelerated temperature cycling conditions (-40C to +125C, 15min ramps/15min dwells). And definition place with maximal stress value rising in solder joint under shearing. This paper describes recent developments made to the finite element modeling of SMD, exxtending its capability to handle viscoplastic behaviour. It also presents the validation of this approach and results obtained for an SMD. Lifetime predictions are made using the creep strain energy based models of Darveaux. This study discusses the analysismethodologies as implemented in the ANSYS finite element simulation software tool.

  • Czech name

    Modelování SMD metodou konečných prvků

  • Czech description

    Cílem práce je zlepšení spolehlivosti připojení SMD součástek na organický substrát metodou konečných prvků. Zkoumaný vzorek je vystaven teplotnímu cyklování od -25 do 150 °C s délkou hrany 15 min. Dalším předmětem zkoumání je určení místa z maximální hodnotou pnutí v pájeném spoji,tzn. určení pravděpodobného místa vzniku poruchy u pájeného spoje. Jako nástroj je použit program ANSYS.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA102%2F04%2F0590" target="_blank" >GA102/04/0590: Development of microelectronics technologies for 3D circuits and systems</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2005

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings of ISSE 2005

  • ISBN

    0-7803-9325-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

    97-101

  • Publisher name

    TU Wien

  • Place of publication

    Wien

  • Event location

    Wiener Neustadt

  • Event date

    May 19, 2005

  • Type of event by nationality

    EUR - Evropská akce

  • UT code for WoS article