QUALITY OF CONTACT TECHNOLOGY AND NOISE MEASURING IN THE CdTe DETECTORS

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54513" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54513 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
QUALITY OF CONTACT TECHNOLOGY AND NOISE MEASURING IN THE CdTe DETECTORS
Original language description
This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe crystals doped with Cl, prepared by traveling heater method (THM). New testing methods based on Potential Distribution measuring apparatus have been used and parameters for ohmic contact of samples CdTe have found. The VA characteristics and noise spectral density was measured at room temperature under dark and illumination. The values of 1/f noise parameter  range from 4 10 4 to 2.5 10 3. Thesignal to noise ratio improves if the electric field strength in the CdTe detector is set to a higher value.
Czech name
Kvalita technologie kontaktů a měření šumu na detekrorech CdTe
Czech description
Tento článek prezentuje výsledky experimenální studie transportních a šumových charakteristik krystalů CdTe. Ke zjištění ohmických parametrů kontaktů vzorků CdTe byla použita nová testovací metoda na bázi měření rozložení potenciálu na vzorcích CdTe. Měřeny byly VA charakteristika a spektrální hustota šumu při pokojové teplotě za tmy a při osvětlení. Pro šum 1/f byla ověřena Hoogeho konstanta alpha, která je v rozsahu 4 10-4 to 2.5 10-3.

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)