Fast LBIC scanning of solar cells
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU58572" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU58572 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Fast LBIC scanning of solar cells
Original language description
For detecting of local defects in solar cells LBIC (Light Beam Induced Current) is a widely used universal method. The resulting picture indicates differences in local series and shunt resistances and differences in local rate of minority carriers recombination. A laser beam scanning over the solar cell surface is routinely used in this test. This process may take several hours depending on demanded picture resolution. A method for fast scanning of solar cells based on the LBIC measurement was proposedand tested. Instead of laser beam a linear light source consistent of multiple SMD LED diodes is used. Scanning is performed in both X and Y axes. In principle one scan in each coordinate is sufficient. The resulting current response is influenced by alldefects allocated in the actual position of the actuating light beam line. The picture of the solar cell defects is computed combining the contributions from each line in both X and Y axes. Result of this computation is not the same as t
Czech name
Metoda rychlého rastrování solárních článků
Czech description
Pro detekci lokálních defektů v solárním článku se používá velmi často metody LBIC (Light Beam Induced Current). Výsledkem je obrázek indikující rozdíly v lokální sériové a derivační rezistivitě a také lokální míře rekombinace minoritních nosičů. Laserový paprsek scanuje pod povrchem solárního článku. Test může trvat i několik hodin. Metoda pro rychlé rastrování solárního článku je založena na principu metody LBIC a také využívá částečně její pracoviště. Místo laserového paprsku je instalována řada červených SMD LED přes celou délku solárního článku. Rastrování probíhá v osách X a Y. V principu stačí jedno přerastrování v těchto souřadnicích. Z proudové odezvy paprsku je poznat rozložení defektů v ploše. Zpracování dat probíhá v programu MATLAB.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Student EEICT 2006
ISBN
8021431628
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
199-202
Publisher name
Vysoké učení technické v Brně, FEKT a FIT
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Apr 27, 2006
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—