Fast LBIC Scanning of Solar Cells

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU65166" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU65166 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Fast LBIC Scanning of Solar Cells

Original language description

For detection of local defects in solar cells LBIC (Light Beam Induced Current) is a widely used universal method. The resulting picture indicates differences in local series and shunt resistances and differences in local rate of minority carriers recombination. A laser beam scanning over the solar cell surface is routinely used in this test. This process may take several hours depending on demanded picture resolution. A method for fast scanning of solar cells based on the LBIC measurement was proposedand tested. Instead of laser beam a linear light source consistent of multiple SMD LED diodes is used. Scanning is performed in both X and Y axes. In principle one scan in each coordinate is sufficient. The resulting current response is influenced by alldefects allocated in the actual position of the actuating light beam line. The picture of the solar cell defects is computed combining the contributions from each line in both X and Y axes. Result of this computation is not the same as t

Czech name

Rychlé rastrování

Czech description

Pro detekci lokálních defektů v solárním článku se používá velmi často metody LBIC (Light Beam Induced Current). Výsledkem je obrázek indikující rozdíly v lokální sériové a derivační rezistivitě a také lokální míře rekombinace minoritních nosičů. Laserový paprsek scanuje pod povrchem solárního článku. Celý proces je závislý na požadované kvalitě výstupního obrázku. Test tedy může trvat i několik hodin. Metoda pro rychlé rastrování solárního článku je založena na principu metody LBIC a také využívá částečně její pracoviště. Místo laserového paprsku je instalována řada červených SMD LED přes celou délku solárního článku. Rastrování probíhá v osách X a Y. V principu stačí jedno přerastrování v těchto souřadnicích. Z proudové odezvy paprsku je poznat rozložení defektů v ploše. Hodnoty z nascanovaných souřadnic jsou v počítači ukládány do matice a sečteny. Zobrazení výpočtu není stejné jako u metod

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2006

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Electronic Devices and Systems EDS 06

ISBN

80-214-3246-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

4

Pages from-to

539-542

Publisher name

Nakl. Z. Novotný

Place of publication

Brno

Event location

Brno

Event date

Sep 14, 2006

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—