TIPS WORKPLACE FOR CHIP CHARACTERISTICS MEASUREMENT

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU69344" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU69344 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
TIPS WORKPLACE FOR CHIP CHARACTERISTICS MEASUREMENT
Original language description
This paper deals with a design, construction and programming equipment of the tips workplace for chip characteristics measurement. Reason, why the experimental tips workplace of wafer probe was built, is to improve existing laboratory task for education.In the laboratory task the Hall voltage generation on silicon chip placed in the magnetic field was measured. However, new possibilities of use of the tips workplace were revealed
Czech name
Hrotové měřicí pracoviště pro měření charakteristik čipů
Czech description
Tento článek pojednává o návrhu, realizaci a programovém vybavení hrotového měřicího zařízení.Důvodem proč bylo měřicí pracoviště vytvořeno bylo vylepšení stávající laboratorní úlohy. V laboratorní úloze se měří Hallovo napětí vznikající na přechodu PN křemíkového čipu.

Project
<a href="/en/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Modern methods of electronic circuit analysis, design and applications</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)