Solar cell noise measurement methodology
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70070" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70070 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Metodika měření šumu solárních článků
Original language description
Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces.
Czech name
Metodika měření šumu solárních článků
Czech description
Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Elektronika a informatika 2007
ISBN
978-80-7043-572-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
45-48
Publisher name
Západočeská univerzita v Plzni
Place of publication
Plzeň
Event location
Nečtiny
Event date
Oct 31, 2007
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—