Scintillationsecondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU80355" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU80355 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Scintillationsecondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope
Original language description
This article deals with a scintillation detector of secondary electrons for variable pressure scanning electron microscope. The influence of the change of voltages on electrode system of the detector and on scintillator on secondary electrons detection is proved
Czech name
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Czech description
Práce se zabývá scintilačním detektorem sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop. Vlivem velikosti napětí na elektrodovém systému scintilačnm detektoru sekundárních elektronů a scintilátoru na velikosti signálu.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of the 15th conference Student EEICT 2009 - Volume 3
ISBN
978-80-214-3869-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
Novpress s.r.o
Place of publication
Brno
Event location
FEKT VUT v Brně
Event date
Apr 23, 2009
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—