Solar cell characterization using light emission of reverse biassed pn junction
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82381" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82381 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Charakterizace solárních článků s využitím vyzařování ze závěrně polarizovaných pn přechodů
Original language description
Příspěvek se experimentálně zabývá problematikou lokálního vyzařování ze závěrně polarizovaných monokrystalických křemíkových solárních článků. Místa na povrchu článků, ze kterých dochází k lokálnímu vyzařování, jsou pravděpodobné defekty. U vzorků bylopozorováno vyzařování z hran jednak lokální, ale i celistvé. V článku je popsána metoda charakterizace a jsou ukázány některé dosažené výsledky charakterizace několika skupin vzorků. Ze získaných výsledků je patrné, že metoda by mohla být perspektivní nedestruktivní charakterizační technikou defektů. Podstata defektů je hledána v rámci dlouhodobého výzkumu, ale není diskutována v tomto článku.
Czech name
Charakterizace solárních článků s využitím vyzařování ze závěrně polarizovaných pn přechodů
Czech description
Příspěvek se experimentálně zabývá problematikou lokálního vyzařování ze závěrně polarizovaných monokrystalických křemíkových solárních článků. Místa na povrchu článků, ze kterých dochází k lokálnímu vyzařování, jsou pravděpodobné defekty. U vzorků bylopozorováno vyzařování z hran jednak lokální, ale i celistvé. V článku je popsána metoda charakterizace a jsou ukázány některé dosažené výsledky charakterizace několika skupin vzorků. Ze získaných výsledků je patrné, že metoda by mohla být perspektivní nedestruktivní charakterizační technikou defektů. Podstata defektů je hledána v rámci dlouhodobého výzkumu, ale není diskutována v tomto článku.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Sborník příspěvků konference Králíky 2009
ISBN
978-80-214-3938-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
VUT v Brně FEKT
Place of publication
Brno
Event location
Králíky
Event date
Aug 31, 2009
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—