All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Solar cell characterization using light emission of reverse biassed pn junction

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82381" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82381 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Charakterizace solárních článků s využitím vyzařování ze závěrně polarizovaných pn přechodů

  • Original language description

    Příspěvek se experimentálně zabývá problematikou lokálního vyzařování ze závěrně polarizovaných monokrystalických křemíkových solárních článků. Místa na povrchu článků, ze kterých dochází k lokálnímu vyzařování, jsou pravděpodobné defekty. U vzorků bylopozorováno vyzařování z hran jednak lokální, ale i celistvé. V článku je popsána metoda charakterizace a jsou ukázány některé dosažené výsledky charakterizace několika skupin vzorků. Ze získaných výsledků je patrné, že metoda by mohla být perspektivní nedestruktivní charakterizační technikou defektů. Podstata defektů je hledána v rámci dlouhodobého výzkumu, ale není diskutována v tomto článku.

  • Czech name

    Charakterizace solárních článků s využitím vyzařování ze závěrně polarizovaných pn přechodů

  • Czech description

    Příspěvek se experimentálně zabývá problematikou lokálního vyzařování ze závěrně polarizovaných monokrystalických křemíkových solárních článků. Místa na povrchu článků, ze kterých dochází k lokálnímu vyzařování, jsou pravděpodobné defekty. U vzorků bylopozorováno vyzařování z hran jednak lokální, ale i celistvé. V článku je popsána metoda charakterizace a jsou ukázány některé dosažené výsledky charakterizace několika skupin vzorků. Ze získaných výsledků je patrné, že metoda by mohla být perspektivní nedestruktivní charakterizační technikou defektů. Podstata defektů je hledána v rámci dlouhodobého výzkumu, ale není diskutována v tomto článku.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2009

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Sborník příspěvků konference Králíky 2009

  • ISBN

    978-80-214-3938-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    4

  • Pages from-to

  • Publisher name

    VUT v Brně FEKT

  • Place of publication

    Brno

  • Event location

    Králíky

  • Event date

    Aug 31, 2009

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article