Automated test equipment for evaluation of radiation induced changes of PMOS and RADFET transistors I-V curves including their temperature coefficients

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APR28477" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PR28477 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/" target="_blank" >http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Automated test equipment for evaluation of radiation induced changes of PMOS and RADFET transistors I-V curves including their temperature coefficients
Original language description
A fully automated test equipment (ATE) for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors I-V curves and their temperature coefficients has been developed and built. The ATE is designed to provide any combination of bias conditions and temperature profile during the irradiation. Three successful research experiments have been performed and the commercial applications have been negotiated.
Czech name
—
Czech description
—

Publication year
2015
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID
TID/TC ATE 1
Numerical identification
—
Technical parameters
Maximalní celková dávka (Co60) : 1Mrad, Rozsah měření napětí kanálu: 0 až 200V, měření/řízení proudu 0 až 100 mA,teplotní rozsah: -40 až 120 °C, reulace teploty 0,01 °C
Economical parameters
100000 Kč
Application category by cost
—
Owner IČO
00216305
Owner name
Ústav mikroelektroniky
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee requirement
N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
Web page
—

Similar results(10)