Comparison of SEM and SPM techniques for solar cells characterization
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F17%3APU122989" target="_blank" >RIV/00216305:26220/17:PU122989 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://jmo.fzu.cz/" target="_blank" >http://jmo.fzu.cz/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků
Original language description
Zvyšování kvality a účinnosti nových měřicích metod přispívá k pokročilé charakterizaci optoelektronických součástek a zařízení. Tyto metody využívají pro přesnější zkoumání vlastností struktur několik mikroskopických technik, které jsou založeny na fyzikálních principech ovlivněných nano a mikrorozměry zařízení. Tato studie porovnává možnosti SPM a SEM metod pro charakterizaci solárních článků. Metody SPM a SEM znázorňují povrchovou strukturu v mikro a nanoměřítku, atudíž jsou silným nástrojem nanotechnologie.
Czech name
Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků
Czech description
Zvyšování kvality a účinnosti nových měřicích metod přispívá k pokročilé charakterizaci optoelektronických součástek a zařízení. Tyto metody využívají pro přesnější zkoumání vlastností struktur několik mikroskopických technik, které jsou založeny na fyzikálních principech ovlivněných nano a mikrorozměry zařízení. Tato studie porovnává možnosti SPM a SEM metod pro charakterizaci solárních článků. Metody SPM a SEM znázorňují povrchovou strukturu v mikro a nanoměřítku, atudíž jsou silným nástrojem nanotechnologie.
Classification
Type
J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical
CEP classification
—
OECD FORD branch
20201 - Electrical and electronic engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ED2.1.00%2F03.0072" target="_blank" >ED2.1.00/03.0072: Centre of sensor, information and communication systems</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2017
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
neuveden
Issue of the periodical within the volume
62
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
3
Pages from-to
81-83
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—