RT Level Test Optimization for Low Power Consumption

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70909" target="_blank" >RIV/00216305:26230/07:PU70909 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
RT Level Test Optimization for Low Power Consumption
Original language description
The paper deals with low power consumption test optimization for register transfer level (RTL) circuits. A model of circuit under test (CUT), based on the theory of sets and relations is defined. In the model, the power consumption is seen as a parameterdepending on circuit structure and input data used for the test. Optimization method to reduce power consumption during test application, is presented.<br>
Czech name
Optimalizace testu na úrovni RT pro nízký příkon
Czech description
Příspěvek se zabývá optimalizací testu číslicového obvodu na úrovni RT pro nízký příkon. Je představen model obvodu využívající teorie množin a relací. V tomto modelu je hodnota příkonu stanovena v závislosti na struktuře číslicového obvodu a použitých testovacích datech. Dále je prezentována optimalizační metoda pro snížení příkonu obvodu během aplikace testu. <br>

Project
<a href="/en/project/GD102%2F05%2FH050" target="_blank" >GD102/05/H050: Integrated Approach to Education of PhD Students in the Area of Parallel and Distributed Systems</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)