Reduction of Test Vectors Volume by Means of Gate-Level Reconfiguration
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F08%3APU76700" target="_blank" >RIV/00216305:26230/08:PU76700 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Reduction of Test Vectors Volume by Means of Gate-Level Reconfiguration
Original language description
In this paper, a new concept which allows the reduction of test vectors volume is presented. The concept is based on reconfiguration of some gates of circuit under test. Instead of testing the original circuit, a circuit which has the same topology (butsome of its gate functions are reconfigured) is actually tested. Two possible implementations of the reconfiguration are investigated. Preliminary experiments indicate that test length can be reduced to approx. 70% of its initial value while the increasein transistors is moderate.
Czech name
Redukce počtu testovacích vektorů pomocí rekonfigurace na úrovni hradel
Czech description
Článek popisuje způsob umožňující snížit počet testovacích vektorů číslicového obvodu pomocí rekonfigurace některých hradel obvodu. Rekonfigurace je provedena před tím, než je aplikována posloupnost testovacích vektorů. První experimenty ukazují, žeje možné snížit počet testovacích vektorů na 70% původní hodnoty.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JC - Computer hardware and software
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F06%2F0599" target="_blank" >GA102/06/0599: Methods of polymorphic digital circuit design</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proc. of 2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
ISBN
978-1-4244-2276-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
IEEE Computer Society
Place of publication
Bratislava
Event location
Bratislava
Event date
Apr 16, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—