AFM microscope enabling so-called "fast imaging", adaptive scanning and SW modules for advanced correlative microscopy image processing

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000002" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000002 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
AFM mikroskop umožňující tzv. „fast imaging“, adaptivní skenování a SW moduly pro pokročilé zpracování obrazu korelativní mikroskopie
Original language description
Mikroskop LiteScope je určen pro mikroskopické techniky rastrující sondou a byl navržen jako příslušenství elektronových mikroskopů. Rastrující sondová mikroskopie je ovšem principiálně daleko pomalenší než mikroskopie elektronová, a pro vzájemnou korelovanou mikroskopii je tedy velice přínosné snížení času nutného k měření obrázku a přiblížení ke standardním snímacím časům elektronových mikroskopů. Hlavní rozdíl obou technik spočívá ve způsobu detekce signálu, kdy mikroskop rastrující sondou využívá pohybu fyzické sondy v těsné blízkosti povrchu vzorku. Tento způsob snímání má například vysoké nároky na rychlost a přesnost zpětné vazby, která vzájemnou polohu vzorku a hrotu nastavuje. Standardní doba snímání topografie vzorku metodou mikroskopie atomárních sil je 15-30 minut a cílem „fast imaging“ modu je snížení tohoto času na hodnotu 3-5 min.
Czech name
AFM mikroskop umožňující tzv. „fast imaging“, adaptivní skenování a SW moduly pro pokročilé zpracování obrazu korelativní mikroskopie
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Advanced microsocpy techniques</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2023
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID
FV 40238 - V2
Numerical identification
—
Technical parameters
Mikroskop LiteScope 2. generace je osazen novým skenerem Tritor 100/z20 (obr. 1) vyvíjeným v kooperaci s firmou Piezosystem Jena GmbH. Skener vychází z koncepce dříve využívaného skeneru, přičemž byla zmenšena jeho velikost, zvětšena tuhost zařízení a navýšena rezonanční frekvcence, která má přímý vliv na možnou rychlost skenování. Nový trojosý skener je určen pro měření v módu bez senzoru (open-loop) i se senzorem (closed-loop) a je možné jej vyrobit ve variantách pro nemagnetické prostředí i ultra vakuové. Funkčnost nového skeneru byla otestována a porovnána s první generací mikroskopu LiteScope. Na obr. 2 je znázorněno testování a vzájemné porovnání snímání kalibrační mřížky TGQ1 obou generací mikroskopu LiteScope. Mikroskop LiteScope 2.0 generace byl navíc osazen i novým předzesilovačem, který bude okomentován později. Z obrázku je patrná zvýšená kvalita obrázku při vyšších rychlostech s nižším šumem a menším počtem artefaktů elektrického rušení.
Economical parameters
Vlastník výsledku očekává zvýšení tržeb a exportu až o 5 %.
Application category by cost
—
Owner IČO
04525671
Owner name
NenoVision s.r.o.
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
V - Výsledek je využíván vlastníkem
Licence fee requirement
A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Web page
—

Similar results(10)