RBS, PIXE and NDP study of erbium incorporation into glass surface for photonics applications
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F06%3ACV000002" target="_blank" >RIV/26722445:_____/06:CV000002 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace
Original language description
Článek pojednává o zapracování erbia do silikátových skelných povrchů pro budoucí využití jeho aktivních fotonových struktur v analytických metodách na svazku. Implantace erbia probíhala iontovou výměnou z taveniny za ionty Li ze specielně navržených skelných substrátů. Složení opticky aktivních vrstev bylo studováno pomocí takových analytických metod na svazku jako např. RBS, PIXE. Metoda NDP (Neutronové hloubkové profilování) byla použita k vyhodnocení změn v rozdělení iontů Li+ u povrchu vyrobených vzorků. Viděli jsme mělké profily erbia, které byly doprovázeny mobilnějšími ionty Cs+ a Rb+, které byly uloženy v podstatně hlubších vrstvách než Er. Koncentrace Li ve skelných substrátech je ve skutečnosti ten nejdůležitější parametr pro difúzi Er do skelných substrátů.
Czech name
RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace
Czech description
Článek pojednává o zapracování erbia do silikátových skelných povrchů pro budoucí využití jeho aktivních fotonových struktur v analytických metodách na svazku. Implantace erbia probíhala iontovou výměnou z taveniny za ionty Li ze specielně navržených skelných substrátů. Složení opticky aktivních vrstev bylo studováno pomocí takových analytických metod na svazku jako např. RBS, PIXE. Metoda NDP (Neutronové hloubkové profilování) byla použita k vyhodnocení změn v rozdělení iontů Li+ u povrchu vyrobených vzorků. Viděli jsme mělké profily erbia, které byly doprovázeny mobilnějšími ionty Cs+ a Rb+, které byly uloženy v podstatně hlubších vrstvách než Er. Koncentrace Li ve skelných substrátech je ve skutečnosti ten nejdůležitější parametr pro difúzi Er do skelných substrátů.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
ISSN
0168-583X
e-ISSN
—
Volume of the periodical
249
Issue of the periodical within the volume
Aug. 2006
Country of publishing house
NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS
Number of pages
3
Pages from-to
856-858
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—