Test Access Circuit for Education

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000121" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:00000121 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Test Access Circuit for Education

Original language description

In this paper our educational chip is presented. In order to demonstrate both diagnostic access method properties we have proposed a simple functional block equipped both with a ScanChain and RAS access, controlled by the TAP controllers.We would like topresent the basic chip features in this paper.

Czech name

TestAccess - obvod pro výuku

Czech description

Příspěvek popisuje námi vyvinutý výukový obvod, který je navržen pro ověřování vlastností odlišných diagnostických metod - ScanChain a RAS. Obě části jsou implementovány na jednoduchý obvod, použito je rozhraní BoundaryScan.Příspěvek je zaměřen na popiszákladní principů a bloků.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Design of highly reliable control systems built on dynamically reconfigurable FPGAs.</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of DDECS2005

ISBN

963-9364-48-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

6

Pages from-to

27-32

Publisher name

—

Place of publication

Sopron, Hungary

Event location

Sopron, Hungary

Event date

Jan 1, 2005

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—