Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000122" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:00000122 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan

Original language description

A part of EduChip Test Access Block (TA block) is presented in this paper. This chip was developed to demonstrate the Boundary Scan and Random Access Scan, controlled by separated TAP controllers.This paper is focused particularly on the layout design and on the measured results.

Czech name

Obvod Test_access - srovnání sériového a paralelního rozhraní

Czech description

Prezentována je jedna část EduChipu jménem Test Access Block (TA block). Tento obvod byl vyvinut pro srovnání vlastností dvou různých diagnostických metod - Boundary Scan (BS) a Random Access Scan (RAS).Tento příspěvek je zaměřen především na praktickourealizaci návrhu a na výsledky měření.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Design of highly reliable control systems built on dynamically reconfigurable FPGAs.</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of MIXDES2005

ISBN

83-919289-9-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

5

Pages from-to

861-865

Publisher name

—

Place of publication

Krakow, Poland

Event location

Krakow, Poland

Event date

Jan 1, 2005

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—