Evaluation and determination of the functional properties of dielectric antireflection and passivation layers
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49610040%3A_____%2F13%3A%2A0000116" target="_blank" >RIV/49610040:_____/13:*0000116 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev
Original language description
Postupy analýz pro charakterizaci pasivačních a antireflexních vrstev z hlediska optických, elektronických a kvantitatívných vlastností. Kvalita těchto vrstev úzce souvisí s chováním základního substrátu, proto jsou v metodice popsány techniky založené na studiu optických parametrů struktury i jako celku (Elipsometrie, opt. reflektometrie), charakterizaci substrátu s následným porovnáváním jeho chování pro padné stanovení pasivačních vlastností na povrchu substrátu aplikované pasivační vrstvy (MWPCD, QSSPC) a v neposledním řadě kvantitatívni vyhodnocení (FTIR).
Czech name
Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev
Czech description
Postupy analýz pro charakterizaci pasivačních a antireflexních vrstev z hlediska optických, elektronických a kvantitatívných vlastností. Kvalita těchto vrstev úzce souvisí s chováním základního substrátu, proto jsou v metodice popsány techniky založené na studiu optických parametrů struktury i jako celku (Elipsometrie, opt. reflektometrie), charakterizaci substrátu s následným porovnáváním jeho chování pro padné stanovení pasivačních vlastností na povrchu substrátu aplikované pasivační vrstvy (MWPCD, QSSPC) a v neposledním řadě kvantitatívni vyhodnocení (FTIR).
Classification
Type
N<sub>metC</sub> - Methodology certified by the authorised body
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FR-TI1%2F619" target="_blank" >FR-TI1/619: *Technology Modification for Deposition of Passivation and Antireflective Coatings by the Method of PECVD for the Condition of Vertical Reactor</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2013
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Internal product ID
CM-2013-619
Regulation ID
CM-2013-619
Technical parameters
Metodika vychází z meřících metod pro charatkerizaci tenkých dielektrických a pasivačních vrstev, které jsou běžnou součástí pro výzkum ve fotovoltaickém (i v polovodičovém) průmyslu. Její aplikace usnadňuje optimalizaci výrobních procesů a hlavně napomáhá k vyšetřování fundamentálích jevů pro zvýšení účinnosti křemíkových solárních článků. Výsledek slouží k vlastnímu využití a byla podepsána Smlouva o využití výsledků výzkumu a vývoje 2012/FR-TI1/619, s MPO ze dne 28.12.2012. Kontaktní osoba: Ing. Renáta Zetková, tel: 601375825, email: renata.zetkova@solartec.cz
Economical parameters
Metodika přispívá k významnému zlepšení kontrolovatelnosti procesů depozice tenkých dielektrických vrstev na povrch křemíkových substrátů, a tím i ke zvýšení elektrické a vzhledové kvality solárních článků. Využití metodiky u realizátora přispěje ke kvalitnímu zhotovení zákaznických solárních článků a FV modulů.
Certification body designation
Solartec s.r.o., Televizní 2618, Rožnov pod Radhoštěm 756 61
Date of certification
—
Method of use
B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy