All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Microstrip line parameters causing signal degradation

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F08%3A00500516" target="_blank" >RIV/49777513:23220/08:00500516 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Microstrip line parameters causing signal degradation

  • Original language description

    Microstrip line is most widely used transmission line on printed circuit boards connecting electronic devices. Microstrip scattering parameter values depend on substrate parameters, processing technology of printed circuit boards and the design of transmission lines like geometric form and branch lines layout. The signal reflections relating to scattering parameters can cause the significant signal degradation. The results of the scattering parameters measurement and the simulation of different microstrip lines are presented and discussed.

  • Czech name

    Parametry mikropáskového vedení způsobující znehodnocení přenášeného signálu

  • Czech description

    Mikropáskové vedení se velmi často používá jako přenosové vedení na plošném spoji propojující jednotlivé součástky. Hodnoty rozptylových parametrů těchto vedení závisí na parametrech použitého substrátu, tvaru a technologické úpravě povrchu mikropáskových vedení. Odrazy na vedení, které mohou způsobit znehodnocení přenášeného signálu, přímo souvisí s hodnotami rozptylových parametrů. V tomto článku jsou prezentovány a diskutovány naměřené a nasimulované hodnoty rozptylových parametrů pro různé typy mikropáskových vedení.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2008

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    ESTC 2008

  • ISBN

    978-1-4244-2813-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    6

  • Pages from-to

  • Publisher name

    IEEE

  • Place of publication

    Piscataway

  • Event location

    Greenwich, Londýn

  • Event date

    Sep 4, 2008

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article

    000261094400095