Application of Two-Dimensional Detectors in X-ray Diffraction Materials Structure Analysis

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F05%3A00500983" target="_blank" >RIV/49777513:23520/05:00500983 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/49777513:23640/05:00500983
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Application of Two-Dimensional Detectors in X-ray Diffraction Materials Structure Analysis
Original language description
The examination of the azimuthal (lateral) diffraction line profile, i.e., the size, number and shape of individual diffraction spots of which discontinuous diffraction line consist, often reveals useful information on the material?s structure which cannot be obtain by the application of other analytical techniques. The information obtained can be advantageously used in the development and optimization of technological processes as well as for monitoring of processes which degrade the material?s structure during their use.
Czech name
Využití pločných pozičně citlivých detektorů k rtg difrakční analyse struktury materiálu
Czech description
Zkoumání azimutálního (laterálního) profilu nespojitých difrakčních linií, t.j. zjišťováním velikosti, počtu a tvaru soliterních reflexí jež je tvoří, můžeme často získat o struktuře materiálu užitečné informace, které jsou jinými analytickými technikaminedostupné. Tyto informace mohou být s výhodou využity k optimalisaci technologických postupů, jakož i při monitorování procesů, jimiž struktura materiálu během jeho exploatace degraduje.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)