Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F08%3A00500312" target="_blank" >RIV/49777513:23520/08:00500312 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/49777513:23640/08:00500312 RIV/49777513:23210/08:00500312
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films
Original language description
Measurement system for thin films thermal properties investigation based on nanosecond pulsed laser and two fast infrared detectors was developed. It can be used for measurement of thin film thermal effusivity and further for determination of its thermalconductivity and volumetric specific heat. The system was first evaluated on titanium bulk sample and titanium thin films. Finally, industrial wear resistant thin films were investigated.
Czech name
Měřící systém tepelné vodivosti tenkých vrstev založený na pulzní fototepelné radiometrii a jeho aplikace na průmyslové otěruvzdorné vrstvy
Czech description
Byl vyvinut měřící systém pro zjišťování tepelné vodivosti tenkých vrstev založený na nanosekundovém pulzním laseru a dvou rychlých infračervených detektorech. Systém umožňuje měření tepelné efuzivity tenkých vrstev a dále určení jejich tepelné vodivostia objemové tepelné kapacity. Systém byl nejprve zhodnocen při použití titanového objemového vzorku a titanových tenkých vrstev. Nakonec byly zkoumány průmyslové otěruvzdorné tenké vrstvy.

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)