Monitoring heat-treatment and forming processes by X-ray diffraction topography

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F03%3A00000128" target="_blank" >RIV/49777513:23640/03:00000128 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie
Original language description
Rentgenová difrakční topografie dokazuje, že je výkonným nástrojem ke sledování změn vyvolaných tepelným zpracováním a tvářením ve struktuře polykrystalického materiálu. RTG difraktometrie je zhruba 3000-krát citlivější než světelný mikroskop, tak jako je délka záření používaného v RTG zhruba 3000-krát kratší než viditelné světlo. Je důležité, že kontrast pozorovaný v RTG je založen na difrakci, což umožňuje pozorovat ztrátu koherence dokonce i uvnitř krystalu, jež se jeví jako homogenní ve světelné mikroskopii. V tomto článku je toto ilustrováno řadou příkladů, ve kterých je pozorovaný efekt tepelného zpracování porovnán mezi RTG a světelným mikroskopem. Rozbití krystalu do strukturně koherentních domén, velmi dobře viditelný RTG topografií, znač ně ovlivňující dynamiku dislokací a, jako důsledek, také mechanické vlastnosti zkoumaného materiálu, není ve světelném mikroskopu pozorovatelné.
Czech name
Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/LN00B084" target="_blank" >LN00B084: Research Centre for New Technologies in the Region of West Bohemia</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)