All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Characterization of materials by method SEM/EDS.

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F05%3A00013552" target="_blank" >RIV/60461373:22310/05:00013552 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Charakterizace materiálů metodou SEM/EDS

  • Original language description

    Rastrovací elektronový mikroskop je jedním z nejuniverzálnějších přístrojů pro sledování a analýzu pevných látek. Metoda rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) je schopna zobrazovat detaily zkoumaných objektů s nanometrovým rozlišením a uplatňuje se převážně v oblasti výzkumu materiálů, při studiu povrchových jevů a reakcí na rozhraní fází (katalýza, koroze). Ve spojení s metodou rentgenové mikroanalýzy umožňuje na jednom zkoumaném vzorku zobrazit povrch a zároveň provést i prvkovou mikroanalýzu. Příspěvek stručně shrnuje princip a možnosti využití SEM/EDS (zařízení je dostupné na FCHT VŠCHT Praha) při studiu materiálů. Tyto poznatky jsou doplněny o experimentální zkušenosti a příklady ilustrující možnosti metody.

  • Czech name

    Charakterizace materiálů metodou SEM/EDS

  • Czech description

    Rastrovací elektronový mikroskop je jedním z nejuniverzálnějších přístrojů pro sledování a analýzu pevných látek. Metoda rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) je schopna zobrazovat detaily zkoumaných objektů s nanometrovým rozlišením a uplatňuje se převážně v oblasti výzkumu materiálů, při studiu povrchových jevů a reakcí na rozhraní fází (katalýza, koroze). Ve spojení s metodou rentgenové mikroanalýzy umožňuje na jednom zkoumaném vzorku zobrazit povrch a zároveň provést i prvkovou mikroanalýzu. Příspěvek stručně shrnuje princip a možnosti využití SEM/EDS (zařízení je dostupné na FCHT VŠCHT Praha) při studiu materiálů. Tyto poznatky jsou doplněny o experimentální zkušenosti a příklady ilustrující možnosti metody.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    CG - Electrochemistry

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2005

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Sborník symposia Nové trendy v anorganické technologii

  • ISBN

    80-7080-565-X

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    7

  • Pages from-to

    261-266

  • Publisher name

    VŠCHT Praha

  • Place of publication

    Praha

  • Event location

    Praha

  • Event date

    May 26, 2005

  • Type of event by nationality

    EUR - Evropská akce

  • UT code for WoS article