Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22340%2F08%3A00020635" target="_blank" >RIV/60461373:22340/08:00020635 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation

Original language description

Raman spectral mapping of thin organic layers on metal substrates is an important analytical tool to characterize these systems. Surface enhanced Raman scattering (SERS) spectroscopy is a suitable technique for analysis of such layers. Development of newSERS-active surfaces with repeatable properties and without disturbing adsorbed species is one of the important steps for reliable assessment of thin organic layers designed. This paper presents new SERS-active substrates suitable for both macro- (mm scale) and microscopic (mm scale) spectral mapping, which allow an easy regeneration for repetitive experiments. Both gold and silver SERS-active surfaces prepared by electrochemical deposition were tested. Complete map data evaluation utilities were newlydesigned and applied; using both ordinary used and newly modified mathematical algorithms and chemometrical procedures. Evaluation of data starts with Finite Impulse Response (FIR) filtration algorithms to eliminate spectral interference

Czech name

Detekce a vyhodnocení tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu Ramanovou spektroskopií: systematický přístup od tvorby substrátu po vyhodnocení spektrálních map

Czech description

Ramanovo spektrální mapování tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu představuje důležitý analytický nástroj pro charakterizaci těchto systémů. Spektroskopie povrchem zesíleného Ramanova rozptylu (SERS) je vhodnou technikou pro analýzutěchto vrstev. Vývoj nových SERS-aktivních substrátů, s opakovatelnými vlastnostmi a bez rušivých adsorbovaných specií, je důležitým předpokladem pro spolehlivé posouzení připravených tenkých organických vrstev. Tento článek představuje nové SERS-aktivní substráty vhodné jak pro makro- (milimetrové měřítko) tak pro mikroskopické (mikrometrické měřítko) spektrální mapování, které umožňují snadnou regeneraci SERS-aktivní části a zároveň i opakovatelné experimenty. Byly testovány elektrochemicky připravené zlaté i stříbrné substráty. Pro vyhodnocení byly aplikovány nově vyvinuté utility pro tvorbu spektrálních map, obsahující jednak běžně užívané a jednak nově navržené matematické algoritmy a chemometrické procedury. Vyhodnocení spektráln

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

CB - Analytical chemistry, separation

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Journal of Raman Spectroscopy

ISSN

0377-0486

e-ISSN

—

Volume of the periodical

39

Issue of the periodical within the volume

4

Country of publishing house

GB - UNITED KINGDOM

Number of pages

10

Pages from-to

—

UT code for WoS article

000255206600012

EID of the result in the Scopus database

—