Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument - Part II

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F05%3A00023578" target="_blank" >RIV/61389005:_____/05:00023578 - isvavai.cz</a>

Alternative codes found

RIV/61389005:_____/05:00030678 RIV/26722445:_____/06:#0000068

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Optimization of bent perfect Si(220)-crystal monochromator for residual strain/stress instrument - Part II

Original language description

Optimized diffractometer arrangements for residual strain measurements employing curved crystal monochromators provide good luminosity and a high Delta d/d resolution in the vicinity of usually used scattering angle 2 theta(S) 90 degrees. Due to a variety of designs of the diffractometers which could be installed at a constant or different take-off angles, except a few attempts, there is a lack of experimental evidence providing a help in a choice of parameters for an optimum performance. In addition toour earlier investigations with curved Si(311) monochromator employed in different diffraction geometries (see paper I [M.K. Moon et al., Physica B, submitted [1]]), the present paper presents the monochromator properties of cylindrically bent perfect Si(220) crystals as another candidate to be used as monochromator in residual strain diffractometers.

Czech name

Optimalizace monochromátoru na bázi ohnutého dokonalého krystalu Si(220) pro zařízení ke studiu zbytkových napětí - Část II

Czech description

Optimalizovaná uspořádání difraktometrů pro měření zbytkových napětí, které používají zakřivené krystalové monochromátory vykazují dobrou světelnost a vysoké rozlišení delta d/d v oblasti rozptylových uhlů kolem 90 stupňů. I když existuje mnoho provedenídifraktometrů, které mohou být instalovány na různých difrakčních úhlech monochromátoru, stále přetrvává nedostatek experimentálních výsledků umožňujících výběr optimálních parametrů. V návaznosti na dřívější studie provedená s ohnutým monochromátorem Si(311) v různých difrakčních geometriích (viz článek I [M.K. Moon et al., Physica B, submitted [1]]), nynější článek uvádí vlastnosti ohnutého dokonalého krystalu Si(220) který může být dalším kandidátem k použití jako monochromátor v difraktometrech proměření zbytkových napětí.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA202%2F03%2F0891" target="_blank" >GA202/03/0891: Research centre using thermal neutrons</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Physica. B

ISSN

0921-4526

e-ISSN

—

Volume of the periodical

368

Issue of the periodical within the volume

1 2 3 4

Country of publishing house

NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS

Number of pages

5

Pages from-to

70-75

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—