Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F04%3A00101482" target="_blank" >RIV/61389013:_____/04:00101482 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)

Original language description

V příspěvku jsou prezentovány výsledky dosažené pomocí mikroskopie atomových sil při 1) studiu morfologie povrchů nanokompozitních materiálů a při 2) charakterizaci nanočástic deponovaných na substrátech.

Czech name

Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM)

Czech description

V příspěvku jsou prezentovány výsledky dosažené pomocí mikroskopie atomových sil při 1) studiu morfologie povrchů nanokompozitních materiálů a při 2) charakterizaci nanočástic deponovaných na substrátech.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Zborník

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

3

Pages from-to

24-26

Publisher name

Ústav polymérov

Place of publication

Bratislava

Event location

Smolenice

Event date

Sep 26, 2004

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—