Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389013%3A_____%2F09%3A00320025" target="_blank" >RIV/61389013:_____/09:00320025 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films
Original language description
Amorphous Ge27As13S60, Ge14As27S59 and Ge16As26S58 thin films were prepared by thermal evaporation. Well annealed films were photodarkened by the photons with energy little exceeding the band gap energy. Using Atomic Force Microscopy we observed significant photoexpansion of studied films. Atomic Force Acoustic Microscopy revealed domains like structure of the surface and near surface parts of the samples which one was found to be more disintegrated after illumination.
Czech name
Charakterizace fotoindukovaných změn v amorfních filmech Ge-As-S pomocí AFM a AFAM
Czech description
Amorfní Ge27As13S60, Ge14As27S59 a Ge16As26S58 tenké filmy byly připraveny napařováním. Ztemperované filmy byly ztmaveny fotony s energií mírně přesahující Eg. Pomocí AFM byla pozorována výrazná fotoexpanze studovaných filmů. Pomocí AFAM se získal přehled o doménové struktuře povrchu a pod-povrchových částí vzorků, kde se dokázalo, že osvícením dochází k jejich desintegraci.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
CA - Inorganic chemistry
OECD FORD branch
—

Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)