Hologaphical device for measurement of freeform surfaces
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F16%3A00486011" target="_blank" >RIV/61389021:_____/16:00486011 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Holografické měřidlo pro free form povrchy
Original language description
Funkční vzorek je měřidlo založené na principu více-vlnné digitální holografie. Metoda využívá měření daného povrchu při osvětlení z několika různých směrů a následného složení dílčích měření pomocí metody nejmenších čtverců. Tato metoda umožňuje měřit rovinné, sférické, asférické i tzv. free-form tvary broušených povrchů.
Czech name
Holografické měřidlo pro free form povrchy
Czech description
Funkční vzorek je měřidlo založené na principu více-vlnné digitální holografie. Metoda využívá měření daného povrchu při osvětlení z několika různých směrů a následného složení dílčích měření pomocí metody nejmenších čtverců. Tato metoda umožňuje měřit rovinné, sférické, asférické i tzv. free-form tvary broušených povrchů.
Classification
Type
G<sub>funk</sub> - Functional sample
CEP classification
—
OECD FORD branch
20201 - Electrical and electronic engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TA03010893" target="_blank" >TA03010893: Measurement instruments for aspherical and free form optical surfaces</a><br>
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Others
Publication year
2016
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Internal product ID
DP0006-2016-FV2
Numerical identification
DP0006-2016-FV2
Technical parameters
Holografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu.
Economical parameters
Měření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce.
Application category by cost
—
Owner IČO
61389021
Owner name
Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v.v
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence
Licence fee requirement
Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Web page
—