Modeling of mechanical stress in thin film systems
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F18%3A00490477" target="_blank" >RIV/61389021:_____/18:00490477 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Model mechanického napětí v systému multivrstev
Original language description
V článku jsou uvedeny důvody, proč je dobré se zabývat mechanickým napětím tenkých vrstev zejména tedy systémem více vrstev, na které je zaměřen. Shrnuje vlastnosti modelu uvedeného v literatuře a snaží se podat odvození alternativního přístupu pro popis jednotlivých vrstev v multivrstvě. Vlastnosti obou přístupů jsou porovnány a uvedeny výhody jejich použití v různých případech.
Czech name
Model mechanického napětí v systému multivrstev
Czech description
V článku jsou uvedeny důvody, proč je dobré se zabývat mechanickým napětím tenkých vrstev zejména tedy systémem více vrstev, na které je zaměřen. Shrnuje vlastnosti modelu uvedeného v literatuře a snaží se podat odvození alternativního přístupu pro popis jednotlivých vrstev v multivrstvě. Vlastnosti obou přístupů jsou porovnány a uvedeny výhody jejich použití v různých případech.
Classification
Type
J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical
CEP classification
—
OECD FORD branch
20306 - Audio engineering, reliability analysis
Result continuities
Project
<a href="/en/project/LO1206" target="_blank" >LO1206: Modern optical systems and technologies</a><br>
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Others
Publication year
2018
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
63
Issue of the periodical within the volume
2
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
3
Pages from-to
62-64
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—