Functional sample of the system for measuring optical systems using shearing interferometry

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F25%3A00651150" target="_blank" >RIV/61389021:_____/25:00651150 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Functional sample of the system for measuring optical systems using shearing interferometry

Original language description

The functional sample is an experimentally validated reference-free wavefront sensor based on Quadriwave Lateral Shearing Interferometry (QWLSI). It enables full-field measurement of the wavefront of optical systems without the need for a reference beam. The system includes the optical sensor, calibration procedures, and software for real-time data acquisition and wavefront reconstruction. The functional sample is verified through measurements of planar, spherical, and generally aberrated wavefronts across multiple wavelengths and numerical apertures and is suitable for applications in optical alignment, testing, and quality control.

Czech name

—

Czech description

—

Type

G_funk - Functional sample

CEP classification

—

OECD FORD branch

10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Project

<a href="/en/project/TN02000020" target="_blank" >TN02000020: Centre of Advanced Electron and Photonic Optics</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2025

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID

TN02000020/001-V10

Numerical identification

—

Technical parameters

Při měření vlnoplochy optických systémů je použit bezreferenční QWLSI senzor založený na laterální střihové interferometrii, kde je vlnoplocha analyzována pomocí difrakční masky umístěné před obrazovým snímačem. Měření je realizováno v plném poli pomocí kamery a numerické rekonstrukce fázových gradientů ve dvou ortogonálních směrech. Funkční vzorek pracuje v rozsahu numerických apertur NA = 0.0 až 0.25 při vlnových délkách 532 nm, 635 nm a 1060 nm. Detekce shearogramu je prováděna pomocí digitálního obrazového snímače, přičemž velikost zavedeného střihu je řízena vzdáleností difrakční masky od detektoru. Rekonstrukce vlnoplochy je realizována numerickou integrací gradientních polí s využitím automatické kalibrace nosných frekvencí a korekčních map, přičemž dosažená opakovatelnost měření činí 3.5 mλ (RMS). Zpracování dat, kalibrace a vyhodnocení vlnoplochy jsou zajištěny specializovaným softwarem vyvinutým v prostředí C#.

Economical parameters

Výsledek je využíván jako interní výzkumný a vývojový nástroj pro metrologická a validační měření u partnerů Meopta a TOPTEC. Přispívá ke zvýšení kvality dat a zefektivnění vývoje optických systémů. Funkční vzorek zároveň vytváří technologický základ pro další optimalizaci senzoru a jeho rozšíření směrem k vyšším numerickým aperturám s potenciálem budoucího ekonomického využití.

Application category by cost

—

Owner IČO

61389021

Owner name

Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i., Meopta s.r.o.

Owner country

CZ - CZECH REPUBLIC

Usage type

P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

Licence fee requirement

Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek

Web page

—