Measurement of thin film thickness by white-light spectral interferometry
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F07%3A00016658" target="_blank" >RIV/61989100:27350/07:00016658 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Measurement of thin film thickness by white-light spectral interferometry
Original language description
Measurement of thin film thickness by white-light spectral interferometry
Czech name
Měření tloušťky tenké vrstvy pomocí spektrální interferometrie v bílém světle
Czech description
Měření tloušťky tenké vrstvy pomocí spektrální interferometrie v bílém světle
Classification
Type
C - Chapter in a specialist book
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA202%2F06%2F0531" target="_blank" >GA202/06/0531: Reflection and waveguiding effects in magnetic nanostructures</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Book/collection name
Annual Proceeding of Science and Technology at VŠB-TUO
ISBN
978-80-248-1662-3
Number of pages of the result
6
Pages from-to
52-56
Number of pages of the book
—
Publisher name
VŠB-Technical University of Ostrava
Place of publication
Ostrava
UT code for WoS chapter
—