Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27600%2F06%3A00013524" target="_blank" >RIV/61989100:27600/06:00013524 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Total internal reflection ellipsometry of lamellar gratings
Original language description
The total internal reflection ellipsometry on the base of coupling prism is described. The problem is solved by Fourier modal method applied using T-matrix algorithm to find diffraction response from multilayer system. Resulting values of ellipsometric parameters ∆ and ψ are studied at the incidence angle interval from 0 to 90 deg for dielectric and metallic lamellar systems. The material influences of the thin air gap thickness are discussed, too.
Czech name
Elipsometrie při úplném odrazu na lamelární mřížce
Czech description
Je popisována elipsometrie při úplném vnitřním odrazu na principu vazebního hranolu. Úloha je řešena Fourierovou modální metodou aplikací T-maticového algoritmu při určení difrakční odezvy od multivrstvy. Výsledné hodnoty elipsometrických úhlů jsou studovány pro úhly dopadu od 0 do 90 stupňů pro dielektrické i metalické lamelární systémy. Rovněž je studován vliv materiálových vlastností a tloušťky gapu.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
International Journal of Microwave and Optical Technology
ISSN
1553-0396
e-ISSN
—
Volume of the periodical
1
Issue of the periodical within the volume
2
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
4
Pages from-to
910-913
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—