Scanning Probe Microscopy

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15410%2F03%3A00001422" target="_blank" >RIV/61989592:15410/03:00001422 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Mikroskopie skenující sondou
Original language description
Mikroskopie atomárních sil patří do skupiny mikroskopických technik, využívajících skenující sondu. Tyto techniky zahájily svůj dynamický vývoj v roce 1981, kdy byl v laboratořích IBM v Curychu vyvinut skenovací tunelovací mikroskop. Doposud mezi odbornými monografiemi chyběla česká publikace, která by zahrnovala všechny důležité aspekty jednotlivých technik spadající do této problematiky. Přestože z větší části je kniha věnována mikroskopii atomárních sil, se kterou má naše pracoviště největší zkušenosti, v jednotlivých kapitolách a odstavcích jsou popsány všechny důležité stránky týkající se teorie, experimentu i aplikací všech podstatných technik a metod patřících do zmíněné skenovací sondové mikroskopie. Proto je kniha vhodná pro studenty různých fyzikálních oborů magisterského i doktorského studia, pro studenty dalších technických a nefyzikálních oborů, ale i pro veškerou odbornou veřejnost.
Czech name
Mikroskopie skenující sondou
Czech description
—

Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)