Atomic Force Microscopy and its Application at Nanoparticles and Surface Study
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F02%3A00001547" target="_blank" >RIV/61989592:15310/02:00001547 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Mikroskopie atomárních sil a její aplikace při studiu povrchů a nanočástic
Original language description
Příspěvek je přehledem našich aplikací AFM při studiu povrchů a nanočástic. Nejzajímavější aplikací AFM je analýza nanočástic oxidu železa a jejich morfologická studie.
Czech name
Mikroskopie atomárních sil a její aplikace při studiu povrchů a nanočástic
Czech description
—
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JJ - Other materials
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Sborník 14.konference českých a slovenských fyziků
ISBN
80-7082-907-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
691
Pages from-to
357-362
Publisher name
ZČU
Place of publication
Plzeň
Event location
Plzeň
Event date
—
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—