Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985815%3A_____%2F08%3A00321637" target="_blank" >RIV/67985815:_____/08:00321637 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils
Original language description
We report on recent progress with development of astronomical X-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimized parameters. Recentefforts with Si wafers have been focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement.
Czech name
Novodobý pokrok s rentgenovou optikou založenou na Si deskách a skleněných foliích
Czech description
V článku podáváme zprávu o pokroku s vývojem astronomické rentgenové optiky založené na tepelně utvořených skleněných foliích a na ohnutých Si deskách. Experimenty s tepelným zpracováním skla pokračovaly přidáním širší řady ohodnocených a optimalizovaných parametrů. Nové úsilí se Si deskami bylo zaměřené na zlepšování jakosti, aby lépe uspokojily požadavky budoucích rentgenových projektů a aplikací, stejně jako na studium jejich jakosti povrchu, analýzy defektů, a metod na měření. Také diskutujeme prvnívýsledky ozařovacích zkoušek vybraných substrátů.

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils
ISBN
—
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Number of pages
12
Pages from-to
—
Publisher name
International Society for Optical Engineering
Place of publication
Bellingham
Event location
Marseille
Event date
Jun 23, 2008
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
259563700034

Similar results(10)