Dispersion properties of silicon nanophotonic waveguides investigated with Fourier optics
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F07%3A00086053" target="_blank" >RIV/67985882:_____/07:00086053 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Dispersion properties of silicon nanophotonic waveguides investigated with Fourier optics
Original language description
We experimentally investigate the dispersion relation of silicon-on-insulator waveguides in the 1550 nm wavelength range by using a technique based on farfield Fourier-space imaging. The phase information of the propagating modes is transferred into thefar field either by probe gratings positioned close to the waveguide core or by residual gratings located on its sidewalls. As a result, the dispersion curve of rectangular and slot waveguides as well as the group index dispersion are accurately determined.
Czech name
Disperzní vlastnosti křemíkových nanofotonických vlnovodů vyšetrované s pomocí fourierovske optiky
Czech description
Disperzní závislosti křemíkového vlnovodu na SiO2 podložce v oblasti 1550 nm jsou experimentálně určeny s pomocí fourierovského zobrazení ve vzdáleném poli. Fázová informace je přenesena do vzdáleného pole s pomocí mřížky umístěné v blízkosti vlnovodu nebo s využitím reziduální mřížky na jeho boku. Popsaným způsobem je přesně určena fázová i grupová disperzní závislost obdélníkového vlnovodu a vlnovodu se vzduchovou štěrbinou.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F05%2F0987" target="_blank" >GA102/05/0987: Modelling and characterization of advanced guided-wave photonic structures</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>R - Projekt Ramcoveho programu EK
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Optics Letters
ISSN
0146-9592
e-ISSN
—
Volume of the periodical
32
Issue of the periodical within the volume
18
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
3
Pages from-to
2723-2725
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—