Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F08%3A00307535" target="_blank" >RIV/68081723:_____/08:00307535 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00216224:14310/08:00024781
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Near-field scanning optical microscopy studies of thin film surfaces and interfaces
Original language description
In this article, the results of the modeling of topography related artifacts appearing in near-field scanning optical microscopy measurements are presented. The results obtained for near-field scanning optical microscope are compared with experimental results. It is shown that the chosen numerical method - Finite Difference in Time Domain method(FDTD)-can be used for efficient modeling of main topography related artifact.
Czech name
Studium povrchů tenkých vrstev a rozhraní pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli
Czech description
V tomto článku prezentujeme výsledky modelování topografie artefaktů v optické rastrovací mikroskopii v blízkém poli. Výsledky získané rastrováním v blízkém poli optického mikroskopu jsme porovnávali s experimentálními výsledky. Ukazuje se, že vybranou numerickou metodu FDTD lze použít pro efektivní mapování artefaktů.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BL - Plasma physics and discharge through gases
OECD FORD branch
—

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)