Environmental scanning electron microscope AQUASEM-II
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00047189" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00047189 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II
Original language description
Byl plně uveden do činnosti mikroskop, který umožňuje pozorování vzorků ve vysokovakuových podmínkách s rozlišením 5nm při urychlovacím napětí 25kV. Současně tento mikroskop dovoluje pozorovat vlhké vzorky při tlaku ve vzorkové komoře 2000Pa. V mikroskopu je využita optická soustava tipu VEGA, pod níž je zabudovaná diferenciální komora se scintilačním detektorem zpětně odražených elektronů a ionizačním detektorem sekundárních elektronů. Mikroskop je dále vybaven zařízením pro udržování trvalé vlhkosti vzorků a Peltierovým článkem pro jejich chlazení až do -20°C. Detekční systém je softwarově vybaven. Je adjustováno měření tlaku v komoře vzorku, v diferenciální komoře a v tubusu mikroskopu. Mikroskop je univerzálním zařízením pro pozorování všech tipů nevodivých a vodivých vzorků.
Czech name
Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II
Czech description
Byl plně uveden do činnosti mikroskop, který umožňuje pozorování vzorků ve vysokovakuových podmínkách s rozlišením 5nm při urychlovacím napětí 25kV. Současně tento mikroskop dovoluje pozorovat vlhké vzorky při tlaku ve vzorkové komoře 2000Pa. V mikroskopu je využita optická soustava tipu VEGA, pod níž je zabudovaná diferenciální komora se scintilačním detektorem zpětně odražených elektronů a ionizačním detektorem sekundárních elektronů. Mikroskop je dále vybaven zařízením pro udržování trvalé vlhkosti vzorků a Peltierovým článkem pro jejich chlazení až do -20°C. Detekční systém je softwarově vybaven. Je adjustováno měření tlaku v komoře vzorku, v diferenciální komoře a v tubusu mikroskopu. Mikroskop je univerzálním zařízením pro pozorování všech tipů nevodivých a vodivých vzorků.
Classification
Type
X - Unclassified
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Scanning electron microscopy for research of structure of wet materials</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů