Modulation transfer function of electron-bombarded CCD

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109030" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109030 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Modulation transfer function of electron-bombarded CCD
Original language description
The modulation transfer function (MTF) is the key parameter to judge the ability of the image sensor to detect a sharp transition in luminance and a periodically repeated transition in luminance at the plane of the sensor. Because we use the sensor CCD39-02 (Marconi) in our application in directly electron-bombardment mode, we have measured MTF for an electron beam. The decrease of the MTF for a maximum spatial frequency measured for energy of electrons 4 keV is 0.75 - 2.5 dB, and it is approximately the same for both horizontal and vertical directions
Czech name
Modulační přenosová funkce elektrony bombardovaného CCD
Czech description
Modulační přenosová funkce (MTF - modulation transfer function) je klíčovým parametrem pro posouzení schopnosti obrazového senzoru detekovat ostré jasové přechody a periodicky se opakující jasové změny v rovině snímače. Protože používáme sensor CCD39-02(Marconi) v režimu přímého elektronového bombardování změřili jsme MTF při detekci elektronů. Změřený pokles MTF pro maximální prostorový kmitočet pro energii elektronů 4 keV je 0.75 - 2.5 dB a je přibližně stejný pro horizontální i vertikální směr

Project
<a href="/en/project/GA202%2F03%2F1575" target="_blank" >GA202/03/1575: Acquisition of image in the low energy scanning electron microscope via detection of the angular distribution of signal electrons</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
81-82
Publisher name
Belgian Society for Microscopy
Place of publication
Liege
Event location
Antwerp
Event date
Aug 22, 2004
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)