Optimization of scintillation detector for SEM

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109033" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109033 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Optimization of scintillation detector for SEM

Original language description

Detective quantum efficiency (DQE) is the best quantity for characterisation of the detector quality. Unfortunately, low DQE of a poor detector gives nearly no information about the limiting component. To enhance the bad scintillation detector, one has to divide its performance into particular events. Electron collection, photon generation, escape from scintillator, coupling to light-guide, losses in light-guide, photoelectron generation, as well as collection and multiplication in a photomultiplier tube (PMT) are the most significant events in the scintillation detector for SEM. To analyse these events and optimise the detector, a lot of important quantities of detector components (such as conversion efficiency, decay time, intrinsic noise and opticalreflectivity, transmittance and matching) must be known. Thereafter, properties of each component can be calculated from individual quantities, and properties of the whole detector can be determined using a convolution

Czech name

Optimalizace scintilačního detektoru pro SEM

Czech description

Detekční kvantová účinnost (DQE) je nejlepší veličina pro posouzení kvality detektoru. Bohužel, nízká hodnota DQE špatného detektoru nedává téměř žádnou informaci o jeho omezujících součástech. Pro zlepšení špatného scintilačního detektoru je třeba rozložit jeho činnost na jednotlivé události. K nejvýznamnějším událostem ve scintilačním detektoru pro SEM patří sběr elektronů, generace fotonů, výstup ze scintilátoru, navázání do světlovodu, ztráty ve světlovodu, generace fotoelektronů i jejich sběr a násobení ve fotoelektrickém násobiči (PMT). Aby bylo možné analyzovat uvedené události a optimalizovat detektor, musí být známy mnohé veličyny součástí detektoru (jako například účinnost konverze, doba doznívání, vlastní šum a optická odrazivost, propustnost a přizpůsobení). Potom mohou být z jednotlivých veličin vypočítány vlastnosti každé součásti a uplatněním konvoluce následně stanoveny vlastnosti celého detektoru

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F04%2F2144" target="_blank" >GA102/04/2144: Optimization of scintillation detector for scanning electron microscopy</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

2

Pages from-to

69-70

Publisher name

Belgian Society for Microscopy

Place of publication

Liege

Event location

Antwerp

Event date

Aug 22, 2004

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—