Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109050" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109050 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization

Original language description

In S(T)EM an image is formed using a focused electron beam, which is scanning across a very small part of the specimen surface. A scintillation detection system consisting of a scintillator, light-guide and photomultiplier (PMT) processes only one pixelof the image at any given moment. Not only efficiency, but also kinetic properties of such a system are of great importance. Scintillation detectors can show a noticeable difference in detective quantum efficiency (DQE) due to the bad electron-photon energy conversion and/or light losses in the optical part of the detector. Up to now, some studies were engaged in measurement of S(T)EM detectors performance ascertaining very low DQE for some detectors, but no suggestion has been made to optimize the detector set-up. To find the neck of a detection system, one must examine the whole detection path step by step

Czech name

Experimentální a simulační metody pro optimalizaci scintilačního detektoru

Czech description

Obraz ve S(T)EM je vytvářen s využitím fokusovaného elektronového svazku, který rastruje přes velmi malou část povrchu vzorku. Scintilační detekční systém, který se skládá ze scintilátoru, světlovodu a fotoelektrického násobiče (PMT), zpracovává v každémokamžiku pouze jeden pixel obrazu. Kromě účinnosti jsou velmi důležité také kinetické vlastnosti takového systému. Kvůli špatné přeměně energie elektron-foton, popřípadě světelným ztrátám v optické části detektoru, mohou scintilační detektory vykazovatznatelné rozdíly v detekční kvantové účinnosti (DQE). Do současné doby se některé studie zabývaly měřením výkonnosti S(T)EM detektorů, přičemž zjistily velmi nízké hodnoty DQE u některých z nich, ale nebyly učiněny žádné návrhy pro optimalizaci uspořádání detektoru. K nalezení slabého místa detekčního systému musí být krok za krokem vyšetřena celá detekční trasa

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F04%2F2144" target="_blank" >GA102/04/2144: Optimization of scintillation detector for scanning electron microscopy</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

ISBN

80-239-3246-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

2

Pages from-to

67-68

Publisher name

Institute of Scientific Instruments AS CR

Place of publication

Brno

Event location

Skalský Dvůr

Event date

Jul 12, 2004

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—