How the stiffness of the optical trap depends on the proximity of the dielectric interface

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022542" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022542 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
How the stiffness of the optical trap depends on the proximity of the dielectric interface
Original language description
When a probe confined in a single focused laser beam approaches the surface, it is getting more influenced by the retroreflected beam. This beam interferes with the incident one and a weak standing wave (SW) is created, which slightly modulates the incident beam. We studied experimentally how this phenomena influences the optical trap properties if SW is created using surfaces of two different reflectivities. We used polystyrene probes of diameters 690 nm and 820 nm, tracked their positions with quadrant photodiode (QPD) and analysed their thermal motion to get the axial trap stiffness along optical axis.
Czech name
Souvislost tuhosti optické pasti s blízkostí dielektrického rozhraní
Czech description
Částice vázaná ve fokusovaném laserovém svazku je v blízkosti povrchu ovlivněná odraženým svazkem. Tento svazek interferuje s dopadajícím a vytváří slabou stojatou vlnu, která slabě moduluje dopadající svazek. Experimentálně jsme studovali jak tento jevovlivňuje vlastnosti optické pasti při vytvoření stojaté vlny povrchy se dvěma různými odrazivostmi. Použili jsme polystyrenové kuličky o průměru 690 nm a 820 nm. Jejich polohu jsme sledovali použitím kvadrantního detektoru a analýzou jejich Brownova pohybu jsme získali tuhost pasti podél optické osy.

Project
<a href="/en/project/IAA1065203" target="_blank" >IAA1065203: The use of combination of laser microbeam and cytometric techniques in the study of the structure and dynamics of human genome</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Lasers and Applications (Proceedings of SPIE Vol. 5958)
ISBN
0-8194-5965-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
8
Pages from-to
645-652
Publisher name
SPIE
Place of publication
Bellingham
Event location
Warsaw
Event date
Aug 28, 2005
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)