All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Thermal cycling and lifetime testing of solar cell's solder joints

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00051422" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00051422 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Thermal cycling and lifetime testing of solar cell's solder joints

  • Original language description

    This work is about interconnection of the solar cell and the substrate. Ceramic substrate and back side contact solar cells were used. There are 36 solar cells which were contacted on 12 substrates. The Ag paste was used as a conductive layer and lead free solder paste was chosen as a solder. 3 firing profiles in 4-zone furnace were tested. The thermal cycling is the next step. 6 substrates will be tested with 1000 cycles and 6 substrates will be tested with 3000 cycles. The cycle is in the range -40°Cto 125°C, ramp 10°C/min, dwell 10 min, period 60 min. This is the common test cycle regime used in military applications testing, hence the wide temperature range of the cycle.

  • Czech name

    Teplotní stárnutí a životnost pájených spojů solárních článků

  • Czech description

    Článek se zabývá problematikou propojení solárních článků s keramickým substrátem pomocí bezolovnaté pájky. Byla zkoumána kvalita a životnost pájených spojů po dobu 1000 a 3000 teplotních cyklů. Rozsah jednoho teplotního cyklu byl -40°C až 125°C s náběhovou dobou 10 min při ohřevu 10°C/min, doba trvání cyklu byla 60 minut.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2006

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    EDS'06 - Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2006 - Proceedings

  • ISBN

    80-214-3246-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

    276-280

  • Publisher name

    Vysoké učení technické v Brně

  • Place of publication

    Brno

  • Event location

    Brno

  • Event date

    Sep 14, 2006

  • Type of event by nationality

    EUR - Evropská akce

  • UT code for WoS article