Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivative detection of quadrature signals

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00053538" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00053538 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivative detection of quadrature signals

Original language description

We present a laser interferometer where a narrow-line width tuneable VCSEL laser (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) working at 760 nm is used. For the detection of an absolute distance, we have used a fast wavelength-scanning interferometry technique. In the first part of the work we introduce the absolute laser interferometer as a demonstrator for research of a digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin). The other part of the work is oriented to research and experimental testing ofthe digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin) processed only on basis of one intensity signal (X-axis) that is produced by a simple photo-detector. The first introduction of the method and measured records are presented.

Czech name

Interferometrie s technikou rychlého přelaďovaní vlnové délky a derivační detekcí signálů v kvadratuře

Czech description

V článku představujeme laserový interferometr který využívá úzkospektrální laserovou diodu typu VCSEL (dioda se svislým rezonátorem). Tento interferometr měří absolutní délku pomocí měřicího ramene. Pro detekci této délky je použita metoda rychlého přelaďování vlnové délky laserového svazku v interferometru. V první části práce je popsána a demonstrována tato detekční metoda, která v době přelaďování vlnové délky využívá dva kvadraturní signály X-cos a Y-sin. Druhá část práce je pak věnována derivační detekční technice, která z průběhu hodnoty signálu X-cos umožňuje získat signál Y-sin. A to v případě, že je signál X-cos detekován pouze jedním fotodetektorem. V závěru práce je i ukázka prvních experimentálních výsledků a jejich verifikace.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/IAB2065001" target="_blank" >IAB2065001: Wavelength scanning interferometry with tuneable semiconductor laser</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2006

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of SPIE (Vol. 6188) Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology

ISBN

9780819462442

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

7

Pages from-to

—

Publisher name

SPIE

Place of publication

Bellingham

Event location

Strasbourg

Event date

Mar 5, 2006

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—