The development of EOD program for the design of electron optical devices
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00086239" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00086239 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
The development of EOD program for the design of electron optical devices
Original language description
The paper gives an overview of recent development of program EOD and its application in the design of electron microscopes. The use of the program is illustrated on the computations of detectors in scanning electron microscopy.
Czech name
Vývoj programu EOD pro návrh elektronově optických zařízení
Czech description
Článek ilustruje nedávný vývoj programu EOD a jeho použití při návrhu elektronových mikroskopů. Použití programu je ilustrováno na výpočtech detektorů pro rastrovací elektronovou mikroskopii.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Volume of the periodical
13
Issue of the periodical within the volume
Suppl. 3
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
2
Pages from-to
2-3
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—